1. Tentsio sorta eta zehaztasuna
Neurketa funtzioa |
Neurketa-eremua |
zehaztasuna |
ebazpena |
DC tentsioa |
DC 0.0V~1000V |
±% 5 rg ± 3 dgt |
0,1V |
AC tentsioa |
AC 0.0V~750V |
±% 5 rg ± 3 dgt |
0,1V |
2. Uneko barrutia eta zehaztasuna
Neurketa funtzioa |
Neurketa-eremua |
zehaztasuna |
ebazpena |
Korronte DC |
1mA-6mA |
±% 5 rg ± 2 dgt |
0,01 mA |
100uA-1000uA |
±% 5 rg ± 2 dgt |
1uA |
|
10uA-100uA |
±% 5 rg ± 2 dgt |
0,1uA |
|
1uA-10uA |
±% 5 rg ± 2 dgt |
0,01uA |
|
100nA-1000nA |
±% 5 rg ± 2 dgt |
1nA |
|
10nA-100nA |
±10%errg±5dgt |
0,1nA |
|
1nA-10nA |
±20%errg±5dgt |
0.01nA |
|
100pA-1000pA |
±30%errg±5dgt |
1pA |
3. Kapazitate sorta eta zehaztasuna
Neurketa funtzioa |
Neurketa-eremua |
zehaztasuna |
ebazpena |
kapazitatea |
10uf-50uf |
±%fs.±5dgt |
0,01 uf |
1uf-10uf |
±%fs.±5dgt |
0,01 uf |
|
100nf-1000nf |
±%fs.±5dgt |
1nf |
|
10nf-100nf |
±%fs.±5dgt |
0,1nf |
4. Zehaztapen Teknikoak
Funtzioa |
Isolamendu-erresistentzia-proba, tentsio-proba, DC korronte-proba, kapazitate-proba |
||
Oinarrizko egoera |
23 ℃ ± 5 ℃,% 75 azpitik |
||
PS-3045 |
Tentsio nominala |
100V, 250V, 500V, 1000V, 2500V, 5000V |
|
Isolamendu-erresistentzia tartea |
0,01MΩ~10TΩ |
bereizmena: 0,01 MΩ |
|
PS-3045E |
Tentsio nominala |
250V, 500V, 1000V, 2500V, 5000V, 10KV |
|
Isolamendu-erresistentzia tartea |
0,01MΩ~35TΩ |
bereizmena: 0,01 MΩ |
|
PS-3045F |
Tentsio nominala |
500V, 1000V, 2500V, 5000V, 10KV, 15KV |
|
Isolamendu-erresistentzia tartea |
0.01MΩ~50TΩ |
bereizmena: 0,01 MΩ |
|
Proba-tentsioa (V) |
tentsio nominala×(1±) |
||
DC Tentsio Gama |
0~1000V |
Bereizmena: 0,1V |
|
AC Tentsio Gama |
0~750V |
Bereizmena: 0,1V |
|
Korronte DC |
0,1nA~6mA |
Ebazpena: 0,1nA |
|
Kapazitatea |
10nF~50uF |
Ebazpena: 10nF |
|
Irteerako zirkuitulaburra Korrontea |
≥6mA@15KV |
||
Absortzio-erlazioa eta polarizazio-indizearen neurketa |
Izan |